1、産品簡介:對QFN7x7-18L封裝的的IPM功率IC進行老化測試。
2、适配IC封裝規格:QFN18pin,最小pitch0.65mm,尺寸7x7x0.75。
3、性能要求:-55℃~155℃持續老化測試。
4、老化測試座技術指标:
①結構:翻蓋式;
②外殼材質:鋁合金;
③接觸方式及材質:雙頭探針,铍銅鍍金;
④核心部件材質:FR4;
⑤額定電流:1A;
⑥操作壓力:30g、PIN越多壓力越大;
⑦接觸電阻:<100mΩ;
⑧環境溫度:-55℃~155℃;
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機械壽命:100000;
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